KD6000A智能抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀

KD6000A介損測(cè)量是絕緣試驗(yàn)中很基本的方法，可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等。在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。變壓器、互感器、電抗器、電容器以及套管、避雷器等介損的測(cè)量是衡量其絕緣性能的Z基本方法。 KD6000A變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀突破了傳統(tǒng)的電橋測(cè)量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)、和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)

• 更新時(shí)間：2024-05-05
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• 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
• 產(chǎn)   地：上海寶山

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█ 產(chǎn)品特點(diǎn)
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1、儀器采用復(fù)數(shù)電流法，測(cè)量電容、介質(zhì)損耗及其它參數(shù)。測(cè)試結(jié)果精度高，便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量。
2、儀器采用了變頻技術(shù)來消除現(xiàn)場(chǎng)50Hz工頻干擾，即使在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下也能測(cè)得可靠的數(shù)據(jù)。
3、儀器采用大屏幕液晶顯示器，測(cè)試過程通過漢字菜單提示既直觀又便于操作。
4、儀器操作簡(jiǎn)便，測(cè)量過程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(cè)量方式，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成。
5、一體化機(jī)型，內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容和高壓電源，便于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，減少現(xiàn)場(chǎng)接線。
6、儀器測(cè)量準(zhǔn)確度高，可滿足油介損測(cè)量要求，因此只需配備標(biāo)準(zhǔn)油杯，和測(cè)試線即可實(shí)現(xiàn)油介損測(cè)量。
7、設(shè)CVT測(cè)試功能，可實(shí)現(xiàn)CVT的自激法測(cè)試，無需外置附件，一次測(cè)量C1,C2的電容和介損全部測(cè)出。
8、反接線測(cè)試采用ivddv技術(shù),消除了以往反接線數(shù)據(jù)不穩(wěn)定的現(xiàn)象。
9、具有反接線低壓屏蔽功能，在220kVCVT 母線接地情況下，對(duì)C11 可進(jìn)行不拆線10kV 反接線介損測(cè)量
10、過流保護(hù)功能，在試品短路或擊穿時(shí)儀器不受損壞。
11、接地保護(hù)功能，當(dāng)儀器不接地線或接地不良時(shí)，儀器不進(jìn)入正常程序，不輸出高壓。
12、觸電保護(hù)功能，當(dāng)儀器操作人員不小心觸電時(shí)候，儀器會(huì)立即切斷高壓，保障試驗(yàn)人員的安全.
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█ 產(chǎn)品測(cè)試參數(shù)
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1、儀器可測(cè)量下列參數(shù)并數(shù)字顯示：
2、被測(cè)試品的電容量值CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。
3、被測(cè)試品的介質(zhì)損耗值tgδ，以%顯示。
3、被測(cè)試品的電阻值R，以MΩ為單位
4、施加試品的電壓值V，以kV為單位。
5、試驗(yàn)頻率F，單位Hz。
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█ 產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)
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1、量程：電容值：4pF-60nF   介損值：0～100%
2、精度：
a）電容精度：±（1.0%讀數(shù)+5pF）
b）介損精度：±（1%讀數(shù)+0.04%）
3、分辨率：
電容分辨率：zui小可分辨0.001 pF
介損分辨率：zui小可分辨0.001%
4、高壓電源：設(shè)定范圍：0.5~10kV      zui大輸出電流：200mA
5、低壓輸出：輸出電壓3--50V   輸出電流3—30A
6、工作環(huán)境：
工作電源：AC220V ±10%，50±1Hz
工作溫度：0～40℃
環(huán)境濕度：≤90%RH，不結(jié)露